Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44 : Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44 : Méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs