b) Examen d'échantillons, représentatifs de la fabrication envisagée, d'une ou de plusieurs parties critiques de l'instrument de mesure, plus évaluation de l'adéquation de la conception technique des autres parties de l'instrument de mesure par un examen de la documentation technique et des preuves visées au point 3.
(b) examination of specimens, representative of the production envisaged, of one or more critical parts of the measuring instrument, plus assessment of the adequacy of the technical design of the other parts of the measuring instrument through examination of the technical documentation and supporting evidence referred to in paragraph 3;