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CISC
CISC architecture
CISC chip
CISC microprocessor
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Complete instruction set chip
Complete instruction set computer architecture
Complex instruction set chip
Complex instruction set computer
Complex instruction set computer architecture
Instruction complement
Instruction repertoire
Instruction repertory
Instruction set
Parameter setting instruction
Test and set instruction
Test lens set
Test program set
Test set
Test-and-set instruction

Traduction de «Test-and-set instruction » (Anglais → Français) :

TERMINOLOGIE
voir aussi les traductions en contexte ci-dessous
test and set instruction [ test-and-set instruction ]

instruction lit et positionne


instruction repertoire [ instruction set | instruction repertory | instruction complement ]

jeu d'instructions [ répertoire d'instructions ]


parameter setting instruction

instruction de paramétrage




test lens set

boîte de verres d'essai | boîte d'essai | boîte d'essai de verres


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microprocesseur CISC | processeur CISC | puce CISC | microprocesseur à jeu d'instructions complexe | microprocesseur d'instructions complètes | microprocesseur à jeu complexe d'instructions


CISC architecture | complex instruction set computer architecture | CISC | complete instruction set computer architecture

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complex instruction set computer [ CISC ]

ordinateur à jeu d'instructions complexes [ CISC ]


test set

appareil de contrôle (1) | appareil de test (2)
TRADUCTIONS EN CONTEXTE
185 (1) Where a test consisting of the application to a machine of the same test load up to 10 times is carried out under conditions approximating conditions of normal use, the difference between the least registered load and the greatest registered load shall not exceed the absolute value set out in column II or III, as applicable, of an item of the appropriate table to sections 176 and 177 that corresponds to the known test load set out in column I of that item that is equivalent to the greatest registered load.

185 (1) Lorsqu’un essai qui consiste à déposer une même charge sur un appareil au plus 10 fois est effectué dans des conditions comparables aux conditions normales d’utilisation, l’écart entre la plus petite valeur et la plus grande valeur indiquées par l’appareil ne peut dépasser la valeur absolue prévue aux colonnes II ou III, selon le cas, du tableau applicable des articles 176 et 177, pour la charge connue indiquée à la colonne I qui correspond à la plus grande valeur indiquée par l’appareil.


185 (1) Where a test consisting of the application to a machine of the same test load up to 10 times is carried out under conditions approximating conditions of normal use, the difference between the least registered load and the greatest registered load shall not exceed the absolute value set out in column II or III, as applicable, of an item of the appropriate table to sections 176 and 177 that corresponds to the known test load set out in column I of that item that is equivalent to the greatest registered load.

185 (1) Lorsqu’un essai qui consiste à déposer une même charge sur un appareil au plus 10 fois est effectué dans des conditions comparables aux conditions normales d’utilisation, l’écart entre la plus petite valeur et la plus grande valeur indiquées par l’appareil ne peut dépasser la valeur absolue prévue aux colonnes II ou III, selon le cas, du tableau applicable des articles 176 et 177, pour la charge connue indiquée à la colonne I qui correspond à la plus grande valeur indiquée par l’appareil.


175. Subject to sections 181 to 184 and 188 to 193, where a known test load set out in column I of an item of a table to section 176 or 177 is applied to a machine for the purpose of determining compliance with in-service limits of error, the machine is within the in-service limits of error in respect of that known test load if the load registered by each means of registration of the machine is not greater or less than the known test load by an amount in excess of the amount set out in column III of that item.

175. Sous réserve des articles 181 à 184 et 188 à 193, lorsqu’aux fins de la vérification du respect de la marge de tolérance en service, une charge connue figurant à la colonne I d’un tableau des articles 176 ou 177 est déposée sur un appareil, celui-ci respecte la marge de tolérance en service relativement à la charge connue si la charge indiquée par chacun de ses dispositifs indicateurs n’accuse pas, par rapport à la charge connue, un écart plus grand que la valeur indiquée à la colonne III.


174. Subject to sections 181 to 184 and 188 to 193, where a known test load set out in column I of an item of a table to section 176 or 177 is applied to a machine for the purpose of determining compliance with the acceptance limits of error, the machine is within the acceptance limits of error in respect of that known test load if the load registered by each means of registration of the machine is not greater or less than the known test load by an amount in excess of the amount set out in column II of that item.

174. Sous réserve des articles 181 à 184 et 188 à 193, lorsqu’aux fins de la vérification du respect de la marge de tolérance à l’acceptation, une charge connue figurant à la colonne I d’un tableau des articles 176 ou 177 est déposée sur un appareil, celui-ci respecte la marge de tolérance à l’acceptation relativement à la charge connue si la charge indiquée par chacun de ses dispositifs indicateurs n’accuse pas, par rapport à la charge connue, un écart plus grand que la valeur indiquée à la colonne II.


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(ii) the donor is re-tested as set out in the Directive under the heading “Repeat Screening & Quarantine”, using the tests specified therein or other tests that are at least as effective as those tests in detecting the infectious agents specified therein, and the results of the tests are negative.

(ii) a subi l’évaluation visée à la partie de la directive intitulée « Évaluation de rappel et mise en observation » au moyen des tests qui y sont mentionnés ou au moyen d’autres tests au moins aussi efficaces pour détecter la présence des agents infectieux énumérés dans cette partie, et a obtenu des résultats négatifs.


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