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Alimenteur de feuilles
Bac d'alimentation feuille à feuille
Chargeur feuille à feuille
Dispositif d'alimentation feuille à feuille
Dispositif d'alimentation à faisceau focalisé
Dispositif d'introduction feuille à feuille
Dispositif à faisceau d'électrons
Dispositif à faisceau lumineux
Lithographie par faisceau d'ions focalisé
Lithographie par faisceau d'ions focalisés
Lithographie par faisceau ionique focalisé
Lithographie à faisceau d'ions focalisé
Lithographie à faisceau d'ions focalisés
Lithographie à faisceau ionique focalisé
Projecteur focalisé
Projecteur à faisceau dirigé

Traduction de «Dispositif d'alimentation à faisceau focalisé » (Français → Anglais) :

TERMINOLOGIE
voir aussi les traductions en contexte ci-dessous
dispositif d'alimentation à faisceau focalisé

focused beam feed


lithographie par faisceau d'ions focalisé | lithographie par faisceau d'ions focalisés | lithographie par faisceau ionique focalisé | lithographie à faisceau d'ions focalisé | lithographie à faisceau d'ions focalisés | lithographie à faisceau ionique focalisé

focused ion beam lithography | FIBL | FIB lithography


projecteur à faisceau dirigé [ projecteur focalisé ]

spot lamp


dispositif à faisceau lumineux

light lining attachment


dispositif à faisceau d'électrons

electron beam device


dispositif à faisceau lumineux

light lining attachment


chargeur feuille à feuille | bac d'alimentation feuille à feuille | dispositif d'introduction feuille à feuille | alimenteur de feuilles | dispositif d'alimentation feuille à feuille

sheet feeder | cut sheet feeder | single-sheet feeder
TRADUCTIONS EN CONTEXTE
9. Microscopes électroniques de faible énergie : dispositifs d’optique électronique à transmission ou à balayage, ayant une énergie de fonctionnement de 500 kilo-électronvolts (keV) ou moins, dans lesquels on utilise un faisceau d’électrons, focalisé par des lentilles électroniques, pour produire sur un écran fluorescent, une plaque photographique ou un autre système de visualisation, une image agrandie d’un objet de petite taille.

9. Low Energy Electron Microscopes being electron-optical devices with an operating energy of 500 kilo-electron volts (keV) or less in which a beam of electrons, focused by means of electron lenses, is used to produce an enlarged image of a minute object on a fluorescent screen, photographic plate or any other detector-display system, including both the transmission and scanning types of devices.


c) les ensembles de commandes de l’utilisateur, comprenant au moins deux des éléments suivants : assemblage de circuits imprimés, bloc d’alimentation, clavier d’entrée de l’utilisateur, faisceau de câbles, dispositif d’affichage (type à rayons cathodiques ou plat);

(c) user control assemblies, incorporating more than one of the following: printed circuit assembly, power supply, user input keyboard, wiring harness, display unit (cathode-ray type or flat panel);


c) les ensembles de commande de l’utilisateur comprenant au moins deux des éléments suivants : assemblage de circuits imprimés, bloc d’alimentation, clavier d’entrée de l’utilisateur, faisceau de câbles, dispositif d’affichage (type à rayons cathodiques ou plat);

(c) user control assemblies, incorporating more than one of the following: printed circuit assembly, power supply, user input keyboard, wiring harness, display unit (cathode-ray type or flat panel);


2. équipements spécialement conçus pour la production de masques ou le traitement de dispositifs semi-conducteurs, utilisant un faisceau électronique, un faisceau ionique ou un faisceau "laser" avec focalisation et balayage du faisceau, présentant l'une des caractéristiques suivantes:

2. Equipment specially designed for mask making or semiconductor device processing using deflected focused electron beam, ion beam or "laser" beam, having any of the following:


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